FE SEM controlado por PC para operaciones tanto en alto como en bajo vacío. Propiedades ópticas espectaculares, libre de parpadeo digital de la imagen con alta nitidez. Adquisición de datos muy rápida y totalmente automatizada gracias a la integración hardware de alto nivel del SEM y EDX

MIRA3 LM

MIRA3 LM

Características principales:
  • Adquisición de datos muy rápida y totalmente automatizada gracias a la integración hardware de alto nivel del SEM y EDX
  • Sistema basado en las plataformas MIRA o VEGA
  • Diseño especial de la columna del sistema VEGA para alargar la vida del filamento
  • Posibilidad de modificar el tamaño de las muestras de acuerdo a las necesidades del investigador
  • Hasta 4 detectores EDX integrados para el máximo rendimiento del sistema
  • Nuevo sistema de enfriamiento peltier para una estabilidad térmica garantizada del EDX
  • Varios módulos de análisis de datos
  • Reglas de clasificación a medida
  • Inmejorable relación calidad precio
  • Posibilidad de soluciones hechas a medida

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