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FERA3 | SEM con sistema plasma i-FIB

Es la primera solución a nivel mundial que integra completamente un plasma de Xenon FIB con un SEM, permitiendo corrientes de iones de hasta 2 µA y por tanto incrementan la tasa de sputtering más de 50 veces.

Logo TESCAN

Características principales:
  • Su diseño único “Wide Field Optics” ofrece una gran variedad de modos de trabajo
  • Rápida obtención de imágenes
  • Configuración de las ópticas y alineamiento completamente automático
  • Obtención de imágenes estereoscópicas en vivo únicas usando un haz 3D avanzado
  • Tecnología que abre el mundo micro y nano a una  impresionante experiencia 3D
  • Sofisticado sistema plasma i-FIB de alto rendimiento para un rápido y preciso corte en secciones o/y eliminación de material
  • Control de todos los parámetros del SEM de fácil uso así como la obtención de imágenes FIB/SEM

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