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Reflectometría

Rango espectral: 200 nm (DUV) a 2,5 µm (IR)
Medición de: espesor, índice de refracción, extinción, etc.
Aplicaciones: resinas fotoeléctricas, dieléctricos, orgánicos, etc.

Superando los límites de las medidas del índice de refracciónReflectometría

Nuestros reflectómetros cuentan con medidas de reflectancia de haz individuales más precisos a través de los ajustes en altura e inclinación de la muestra. Además, la alta conductancia del diseño óptico de la luz permite medidas repetibles de n y k, medidas sobre superficies rugosas, así como medidas de espesores de capas muy delgadas.

Rango espectral de UV a NIR
  • RM 1000     430 nm - 930 nm
  • RM 2000     200 nm - 930 nm
Mapeo de alta resolución

Los reflectómetros RM 1000 y RM 2000 se pueden equipar opcionalmente con un stage x-y y software para mapeo. Además, están disponibles lentes de objetivo para un tamaño de punto pequeño y cámara de vídeo.

Los reflectómetros espectroscópicos RM 1000 y RM 2000 miden la reflectancia de las muestras planas o curvas con superficie lisa o rugosa.
Además, utilizando el SENTECH FTPadv Experto se puede obtener el espesor, el coeficiente de extinción, y el índice de refracción de películas individuales o multi-capas. Películas individuales entre 5 nm y 50 micras de espesor, multi-capas, y sustratos pueden ser analizados en el rango espectral UV-VIS-NIR.

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