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Elipsómetros láser

Herramienta de referencia de alta precisión para el índice de refracción y espesor de la película.
Medición de: espesor, índice de refracción, extinción, etc .
Aplicaciones: revestimientos AR para PV, películas individuales, etc

Elipsómetro láser SE 400adv

El elipsómetro láser SE 400adv permite medir el índice de refracción y el espesor de películas delgadas transparentes, con velocidad de medición muy atractiva, precisión “sub-Angstrom” en grosor, y precisión “per mille” en la determinación del índice de refracción. Utilizando el elipsómetro láser SE 400adv se pueden medir ángulos múltiples que permiten la caracterización de películas absorbentes.

Elipsómetro CER SE 500adv

El elipsómetro CER SE 500adv combina un elipsómetro láser y un reflectómetro en un mismo sistema. Esta combinación permite reflectometría de grado cero para el análisis rápido de películas delgadas  y para la determinación de espesor para capas transparentes extienden el rango de espesor medible a 25 micras con la precisión “sub-Angstrom” de un elipsómetro láser.

Opciones para los elipsómetros láser de sobremesa

  • Microspot
  • Mapping (hasta 200 mm)
  • Enfoque automático
  • Reflectómetro - Celda líquida para medición in situ

Elipsómetros láser SE 401 In-situ

El elipsómetro láser SE 401 in situo está diseñado para el control del depósito y procesos de grabado in situ y para medir el espesor y el índice de refracción de las capas en condiciones de vacío.

Elipsómetros láser 2

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