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Elipsometría

El hecho de que esta tecnología mida los cambios de estado de polarización, en lugar de la intensidad absoluta de la luz, convierte a la elipsometría en una técnica altamente sensible incluso a capas finas de apenas algunos angstroms (Å)

Logo SentechLa elipsometría es una técnica de análisis óptico. Esta tecnología se basa en el cambio de estado de polarización de la luz que incide sobre el material a estudiar. Al tratarse de una técnica óptica, este análisis es no destructivo y se puede utilizar para determinar el espesor de capas delgadas, índice de refracción, coeficiente de extinción, etc.

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